目录 第1章数字电子电路简介 1.1理想逻辑门 1.2逻辑电平和噪声容限 1.2.1逻辑电平 1.2.2噪声容限 1.2.3逻辑门的设计目标 1.3逻辑门的动态响应 1.3.1上升时间和下降时间 1.3.2传输延迟 1.3.3功耗延迟积 1.4布尔代数回顾 1.5NMOS逻辑设计 1.5.1带负载电阻的NMOS反相器 1.5.2MS的W/L设计 1.5.3负载电阻设计 1.5.4负载线的可视化 1.5.5开关器件的导通电阻 1.5.6噪声容限分析 1.5.7VIL和VOH的计算 1.5.8VIH和VOL的计算 1.5.9电阻负载反相器噪声容限 1.5.10负载电阻问题 1.6晶体管替代负载电阻方案 1.6.1NMOS饱和负载反相器 1.6.2带线性负载设备的NMOS反相器 1.6.3带耗尽型负载的NMOS反相器 1.7NMOS反相器小结与比较 1.8速度饱和对静态反相器设计的影响 1.8.1开关晶体管设计 1.8.2负载晶体管设计 1.8.3速度饱和影响小结 1.9NMOS与非门及或非门 1.9.1或非门 1.9.2与非门 1.9.3NMOS耗尽型工艺中的或非门及与非门版图 1.10复杂NMOS逻辑设计 1.11功耗 1.11.1静态功耗 1.11.2动态功耗 1.11.3MOS逻辑门的功率缩放 1.12MOS逻辑门的动态特性 1.12.1逻辑电路中的电容 1.12.2带阻性负载的NMOS反相器的动态响应 1.12.3比较NMOS延迟反相器 1.12.4速度饱和对反相器延迟的影响 1.12.5基于参考电路仿真的缩放 1.12.6固有门延迟的环形振荡器测量法 1.12.7无负载反相器的延迟 1.13PMOS逻辑 1.13.1PMOS反相器 1.13.2与非门和或非门 小结 关键词 参考文献 扩展阅读 习题 第2章CMOS逻辑电路设计 2.1CMOS反相器 2.2CMOS反相器的静态特性 2.2.1CMOS电压传输特性 2.2.2CMOS反相器的噪声容限 2.3CMOS反相器的动态特性 2.3.1传播延迟估计 2.3.2上升时间和下降时间 2.3.3按性能等比例缩放 2.3.4速度饱和效应对CMOS反相器延迟的影响 2.3.5级联反相器延迟 2.4CMOS功耗及功耗延迟积 2.4.1静态功耗 2.4.2动态功耗 2.4.3功耗延迟积 2.5CMOS或非门和与非门 2.5.1CMOS或非门 2.5.2CMOS与非门 2.6CMOS复杂门电路设计 2.7逻辑门的最小尺寸设计及性能 2.8级联缓冲器 2.8.1级联缓冲器延迟模型 2.8.2最优级数 2.9CMOS传输门 2.10双稳态电路 2.10.1双稳态锁存器 2.10.2RS触发器 2.10.3采用传输门的D锁存器 2.10.4主从D触发器 2.11CMOS闩锁效应 小结 关键词 参考文献 习题 第3章MOS存储器及其电路 3.1随机存取存储器 3.1.1RAM存储器架构 3.1.2256Mb存储器芯片 3.2静态存储器单元 3.2.1内存单元的隔离和访问(6T单元) 3.2.2读操作 3.2.3向6T单元写数据 3.3动态存储单元 3.3.11T单元 3.3.21T单元的数据存储 3.3.31T单元的数据读取 3.3.44T单元 3.4感测放大器 3.4.16T单元的感测放大器 3.4.21T单元的感测放大器 3.4.3升压字线电路 3.4.4钟控CMOS感测放大器 3.5地址译码器 3.5.1或非门译码器 3.5.2与非门译码器 3.5.3传输管列译码器 3.6只读存储器 3.7闪存 3.7.1浮栅技术 3.7.2NOR电路实现 3.7.3NAND电路实现 小结 关键词 参考文献 习题 第4章双极型逻辑电路 4.1电流开关(发射极耦合对) 4.1.1电流开关静态特性的数学模型 4.1.2对于vI>VREF的电流开关分析 4.1.3vI