第3章
CHAPTER 3


固态二极管和二极管电路





本章目标
 理解二极管结构及基本版图
 介绍pn结二极管的电学特性
 研究各种二极管模型,包括数学模型、理想模型及恒定压降模型
 理解二极管的SPICE描述及二极管的模型参数
 定义二极管的工作区,包括正向偏置、反向偏置及反向击穿
 在电路分析中应用不同模型
 研究不同类型二极管,包括齐纳二极管、变容二极管、肖特基势垒二极管、太阳能电池和发光二极管
 讨论pn结二极管的动态开关行为
 介绍二极管整流器
 二极管电路SPICE模拟练习





固态pn结二极管是首先需要研究的电子器件。二极管是一种非常重要的器件,用途广泛,可以实现交流直流转换(整流)、太阳能发电及射频中的高频混频器通信等功能。此外,pn结二极管是构建其他固态器件的基础。在后面几章我们将学到,利用两个紧密耦合的二极管可以形成双极结型晶体管(BJT)。另外,利用两个晶体管还可以作为构成金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)或结型场效应晶体管(JFET)的主要部分。只有理解了二极管的特性,才能更好地理解场效应晶体管和双极型晶体管,进而利用它们设计数字逻辑电路和模拟放大器。

pn结二极管通过p型半导体材料和n型半导体材料在交界面附近的过渡区制成。肖特基二极管是另一种形式的二极管,
通过在金属(如铝、钯、铂等)和n型或p型半导体之间形成非欧姆接触而形成。本章主要对这两种二极管进行研究。真空二极管是早期出现的二极管,出现在半导体二极管以前,现在很少使用,但在有些高压环境中仍在使用。

pn结二极管是一种非线性器件,也是多数人学习电子学时接触的第一种非线性器件。二极管是一种双端电
子器件,类似于电阻,但描述通过二极管的电流与其两端电压关系的
IV特性不是直线关系。利用二极管的这一非线性特性可以实现许多用途,如整流、混频及波形整理等。二极管还用于实现逻辑与(AND)和逻辑或(OR)等基本逻辑操作。

本章从pn结二极管的基本结构、工作原理及端口特性展开讨论,进而引入晶体管建模的概念。
本章介绍了几种不同的二极管模型,用以分析二极管电路的工作原理。本章开始阶段的内容,旨在培养读者对于二极管
的一些感性认识,使读者能够在二极管众多的复杂特性中简化电子电路的分析与设计。接下来的内容是对二极管电路知识的扩展,包括对二极管在整流器中的具体应用。另外,齐纳二极管、光电二极管、太阳能电池及发光二极管的特性在本章中都有介绍。




3.1pn结二极管

在制造过程中,将p型半导体与n型半导体区域紧密接触,就得到pn结二极管(pn junction diode),如图3.1所示。二极管采用的掺杂工艺在第2章最后一节中已经讲解。

在掺杂浓度为ND的n型硅片上选择某一区域渗入浓度为NA的受主杂质,并且
NA>ND,使之转化成p型半导体,这样该硅片就形成了实际的二极管。其中,p型区与n型区的交界点称为
冶金结,p型区称作二极管的阳极(Anode),n型区称作二极管的阴极(Cathode)。
二极管的电路符号如图3.2所示,左端为二极管的p型区,右端为二极管的n型区,箭头指向二极管中正电流的方向。


图3.1基本的pn结二极管




图3.2二极管电路符号


3.1.1pn结静电学
对于图3.1所示的pn结二极管,假设p型区掺杂浓度NA=1017/cm3,n型区掺杂浓度ND=1016/cm3。pn结两侧的空穴和电子浓度分别为



p型区: pp=1017空穴/cm3np=103电子/cm3

n型区: pn=104空穴/cm3nn=1016电子/cm3

(3.1)


如图3.3(a)所示,冶金结的p型区空穴浓度非常大,而n型区空穴浓度非常小。同样,冶金结的n型区电子浓度很大,而p型区电子浓度很小。


图3.3空穴与电子扩散电流


根据第2章扩散的相关知识可知,空穴从高浓度的p型区向低浓度的n型区扩散,电子从高浓度的n型区向低浓度的p型区扩散,如图3.3(b)和(c)所示。如果扩散过程持续进行,半导体中最终会达到电子和空穴浓度的平衡。注意,空穴和电子两种扩散引发的电流都是朝着x轴的正向方向,但这与二极管开路时端电流为零相矛盾。

因此,半导体中必将建立起另一种竞争机制以平衡扩散电流。第2章所提到的漂移电流正是平衡扩散电流的另一种竞争机制。如图3.4所示,由于冶金结的存在,运动的空穴离开p型区,留下不可动的带负电的受主原子。同时,运动的电子离开n型区,留下不可动的带正电的离化受主原子。这样可动载流子在冶金结两侧耗尽,就形成了空间电荷区
(Space Charge Region,SCR)。空间电荷区也称作耗尽区(Depletion region)或耗尽层(Depletion layer)。




图3.4冶金结中的空间电荷区


在电磁学中,空间电荷密度为ρC(单位为C/cm3)的区域存在的电场强度为E
(单位为V/cm),运用高斯定理可得


·E=
ρcεs
(3.2)



其中,εs(单位为F/cm)是常数,代表半导体的介电常数。式(3.2)在一维的情况下可以写为


E(x)=
1εs

ρc(x)dx
(3.3)




图3.5pn结空间电荷区


当pn结两侧掺杂均匀时二极管空间电荷和电场的分布情况
如图3.5所示。在图3.5(a)中,p型区位于从冶金结的
x=0一直到x=-xp处,空间电荷密度为-qNA。n型区位于从冶金结的x=0一直到x=+xn处,空间电荷密度为+qND。由于二极管在总体上呈现电中性,则有


qNAxp=
qNDxn
(3.4)



在耗尽区内部,电场强度与空间电荷密度的积分成正比,在耗尽区外的电中性区,电场强度为零。利用电场强度为零的边界条件,得到如图3.5(b)所示的电场三角形分布。
电场的积分期限如图3.5(c)所示,pn结空间电荷区两侧存在的内建电势
(Builtin potential)或结电势(Junction potential)
j等于电场强度的积分,其关系为


j=-∫
E(x)dx单位为V
(3.5)


其中,j表示二极管n型区和p型区的内部化学势之差[1],可以表示为


j=VTln
NANDn2i
(3.6)


其中VT=kT/q为热电压(Thermal voltage),在第2章已经给出定义。

利用内建电势由式(3.3)~式(3.6)可以确定耗尽区总宽度wdo


wdo=(xn+xp)=
2εsq
1NA+
1ND
j单位为m
(3.7)



从式(3.7)可以看出,耗尽层宽度(Depletionlayer width)主要由轻掺杂一侧的掺杂浓度决定。
例3.1二极管空间电荷区宽度

在二极管的制作过程中,pn结两侧区域的掺杂浓度往往是不对称的,使得耗尽层主要位于pn结的一侧,被称为单侧阶跃结
(One sided step junction)或者单侧突变结(One sided abrupt  junction)。下面的例子主要针对这种pn结的空间电荷区宽度进行分析。

问题: 已知硅二极管的p型侧的杂质浓度为
NA=1017/cm3,n型侧的杂质浓度为ND=1020/cm3,计算该二极管的内建电势和耗尽区宽度。
解: 

已知量: p型侧的杂质浓度NA=1017/cm3; n型侧的杂质浓度
ND=1020/cm3; 式(3.4)~式(3.7)的pn结相关理论公式。

未知量: 内建电势j和耗尽区宽度wdo。

求解方法: 根据式(3.6)计算内建电势j,然后将j代入式(3.7)求出耗尽宽度
wdo。
假设: 工作在室温状态下,VT=0.025V。n型侧只有施主杂质,p型侧只有受主杂质,pn结两侧都均匀掺杂。
分析: 根据公式,内建电势可以求出为


j=VTln
NANDn2i=
(0.025V)ln

(1017/cm3)(1020/cm3)(1020/cm6)
=0.979V



对于硅半导体而言,εs=11.7ε0,其中ε0=8.85×10-14F/cm,表示真空介电常数。


wdo=
2εsq
1NA+
1ND
j

wdo=
2×11.7×(8.85×10-14F/cm)
1.60×10-9C

11017/cm3+
11020/cm3

0.979V
=0.113μm



结果检查: 内建电势应当小于材料的禁带宽度(Band gap)。硅的禁带宽度约为1.12V(参见表2.3),因此计算的内建电势数值合理。耗尽层宽度看起来很小,但经重复验证后证明计算正确。

讨论: 本例中给出的数值在pn结中具有一定的代表性。对一般固态二极管的掺杂水平而言,内建电势的范围一般在0.5~1.0V,总耗尽层宽度wdo变化很大,重掺杂时可以为1μm,轻掺杂时可以达到几十微米。

练习: 已知硅二极管p型侧的掺杂浓度增加到NA=2×1018/cm3,而n型侧的掺杂浓度为
ND=1020/cm3; 计算内建电势和耗尽区宽度。
答案: 1.05V; 0.0263μm。
3.1.2二极管内部电流
电场方向与正电荷受力方向相同,电子漂移沿+x方向,而空穴漂移沿-x方向,如图3.4所示。由于二极管端电流为零,因此载流子的漂移和扩散在空间电荷区达到动态平衡,空穴扩散和漂移平衡,电子扩散和漂移平衡,式(3.8)已经给出了平衡的机理,对于平衡pn结电子电流密度和空穴电流密度均为0。


jTn=qnμn
E+
qDn
nx=0和
jTp=
qpμpE-
qDp
px=0
单位为A/cm2
(3.8)



图3.5(c)中的电势差是结两侧空穴流和电子流的势垒。当在二极管两端施加电压时,势垒发生变化,打破了式(3.8)中的平衡状态,会在二极管端点产生电流。
例3.2二极管的电场和空间电荷区

本例将计算二极管中电场的大小及pn结每一侧耗尽层的尺寸。
问题: 计算例3.1中二极管的
xn、xp和EMAX。
解: 

已知量: 在p型侧NA=1017/cm3; 在n型侧ND=1020/cm3。描述pn结的理论方程已经在式(3.4)~式(3.7)给出。从例3.1已知j=0.979V和wdo=0.113μm。
未知量: xn、xp和EMAX

求解方法: 使用式(3.4)和式(3.7)计算求xn和xp; 利用式(3.5)求EMAX。
假设: 工作在室温条件下。
分析: 由式(3.4)可以写出


wdo=xn+xp=xn
1+NDNA
和
wdo=xn+xp=xp
1+NAND


求解方程,可解得xn和xp分别为


xn=
wdo
1+NDNA=
0.113μm
1+1020/cm3
1017/cm3=1.13×10-4μm


和


xp=
wdo
1+NAND=
0.113μm
1+1017/cm3
1020/cm3=0.113μm


式(3.5)表明内建电势等于图3.5(b)中三角形下面的面积。三角形的高为-EMAX,底边为
xn+xp=wdo: 


j=
12
EMAXwdo和
EMAX=
2jwdo=
2(0.979V)0.113μm=173kV/cm


结果检查: 根据式(3.3)和式(3.4)可知,EMAX也可以由掺杂水平和pn结两侧的耗尽层宽度求得。下面练习中给出的等式可以作为对本题结果的检验。
练习: 由式(3.3)、图3.5(a)及图3.5(b),可得最大电场为


EMAX=
qNAxpεs=
qNDxnεs


用此公式求EMAX
答案: 175kV/cm。
练习: 已知硅二极管的p型区
NA=2×1018/cm3; n型区ND=1020/cm3。内建电势
=1.05V,wdo=0.0263μm。求Emax、xP、xn。
答案: 798kV/cm; 5.16×10-4μm; 0.0258μm。
3.2二极管的IV特性
二极管的作用等效于机械阀门,只允许电路中的电流朝一个方向流动,阻止电流朝相反的方向流动。在电子电路设计中,二极管的这一非线性特性用途十分广泛。为了理解这种现象,需要了解二极管中的电流和外加电压之间的关系,这种关系称为二极管的
IV特性,将在本节及3.3节中先后给出示意图和数学表达式。

二极管中的电流由加在二极管两端的电压决定。
二极管外加电压的情况如图3.6所示,电压vD表示施加在二极管两端的电压,iD表示流过二极管的电流。二极管的中性区相当于阻值较低的电阻,实际上外加电压几乎全部加载在SCR空间电荷区。
外加电压打破了式(3.8)所示的pn结上扩散电流和漂移电流的平衡,正向偏压使电子和空穴的势垒降低,如图3.7所示,使得电流能轻易穿过pn结。负向偏压使电子空穴势垒升高,也使得式(3.8)所示的扩散漂移平衡受到破坏,电流变得非常小。


图3.6外加电压vD的二极管




图3.7不同偏压下的pn结静电势


二极管IV特性曲线表现出明显的非线性特点,
如图3.8所示,当电压小于0V时,二极管完全不导通,此时
iD≈0A。随着电压增大到零以上,电流仍然接近零,直到电压vD增大到超过0.5~0.7V时,电流才开始急剧增大,此时二极管两端的电压几乎与电流无关。使二极管显著导通需要的电压通常称为二极管的导通 (Turnon或Cutin voltage) 电压。

图3.9是图3.8中原点处特性曲线的放大图,可以看出特性曲线穿过原点,电压为零时,电流也为零。电压为负时,电流并非真为零。当电压小于-0.1V时,电流达到极值-Is。Is称为反向饱和电流(Reverse saturation current),也称二极管的饱和电流。


图3.8pn结二极管的IV特性曲线




图3.9原点附近的二极管工作特性,其中
IS=10-15A,n=1(n为非理想因数)


3.3二极管方程: 二极管的数学模型
在对含有二极管的电路进行手工计算和计算机分析时,利用对应的数学表达式或数学模型是非常有帮助的。图3.8和图3.9给出了pn结二极管的IV特性。实际上,利用固态器件理论推导出的数学表达式与测量所得pn二极管的IV特性高度一致。在本节,我们将学习这一非常重要的表达式,称为二极管方程
(Diode equation)。
在图3.10中,对二极管施加正向电压vD,二极管用图3.2所示的电路符号表示。利用式(3.8)可解得作为电子空穴浓度
及结电压vD函数的端电流,这里不做具体推导,所得二极管方程如式(3.9)所示,它是二极管IV特性的数学模型: 

iD=IS
exp
qvDnkT-1
=IS
exp
vDnVT-1

(3.9)



其中,
IS是二极管的反向饱和电流(单位为A); T是热力学绝对温度(单位为K); 
vD是二极管的外加电压(单位为V); n是非理想因数; 
q是电子电荷量(1.60×10-19C); VT=kT/q是热电压(单位为V); 
k是玻耳兹曼常数(1.38×10-23J/K)。
流经二极管的总电流为iD,二极管两端的电压降为vD。图3.10中标出了端电压和电流的正方向。VT是热电

图3.10外加电压vD的

二极管
压,在第2章中已经学过,室温为0.025V时,IS是二极管的反向饱和电流,在图3.9中已经给出了说明。n是一个无量

纲的常数,稍后详细介绍。通常来说,饱和电流的范围如下


10-18
A≤IS≤10-9A
(3.10)




由器件物理相关知识可知,二极管电流正比于n2i,其中ni是本征半导体材料中的电子和空穴密度。第2章的式(2.1)表明IS受温度影响很大,在3.5节中还会详细讲述。



参数n称作非理想因数(Nonideality factor)。对于大多数硅二极管来说,
n在1.0~1.1,但当二极管工作在大电流密度时,n值接近2。后面除非特别说明,
否则默认n=1,因此二极管方程可以改写为


iD=
IS

expvDVT-1

(3.11)


在热力学绝对温度下,很难辨别n的微小变化,这也是本书假设n=1的原因之一。下面的练习可以使读者对这一问题有更深的理解。
练习: 已知当n=1、T=300K时,n(kT/q)=25.9mV。证明该计算结果。现假设n=1.03,求温度为多少时可以使nVT达到同样的值?
答案: 291K。
式(3.11)中的数学模型精确描述了pn结二极管的IV特性,对于深入理解二极管工作特性十分有用。该模型也是理解第5章中双极型晶体管IV特性的基础。
设计提示
二极管的静态IV特性可以通过3个参数很好地进行表示: 饱和电流IS,由热电压VT表征的温度及非理想因数n。


iD=IS
exp
vDnVT-1



例3.3计算二极管的电压和电流
在本例中,将计算不同二极管类型及不同电流值下的二极管典型电压。

问题: (a) 在室温条件下,已知IS=0.1fA,二极管电流为300μA,求二极管电压。如果IS=10fA呢?如果电流增大到1mA,电压又是多少?

(b) 在室温条件下,已知IS=10mA,n=2,工作电流为10A,求硅功率二极管的电压。

(c) 当二极管工作温度为50℃,且电流为2.50mA时,电压为0.736V,求二极管的饱和电流。
解(a): 
已知量: 二极管工作电流和饱和电流IS。
未知量: 二极管在工作电流下的电压。
求解方法: 解式(3.9)得出二极管电压表达式,然后分别求出各工作电流下的电压值。

假设: 室温时,VT=0.025V,n=1; 直流条件下: 
iD=ID,vD=VD。
分析: 将ID=0.1fA代入式(3.9)得


vD=nVTln
1+IDIS=1
(0.025V)ln
1+3×10-4A10-16A
=0.718V


当IS=10fA时


VD=nVTln
1+IDIS=1
(0.025V)ln
1+3×10-4A10-14A
=0.603V


当ID=1mA,IS=0.1fA时


VD=nVTln
1+IDIS=
1(0.025V)ln
1+10-3A
10-16A=0.748V


结果检查: 二极管电压位于0.5~1.0V,小于n=1时的禁带宽度,结果合理。
解(b): 
已知量: 二极管电流、饱和电流IS和n的值。
未知量: 二极管在工作电流下的电压。

求解方法: 由式(3.9)求解二极管电压,再分析计算的结果。

假设: 室温时,VT=0.025V=1/40V。
分析: 二极管电压为


VD=nVTln
1+IDIS=
2(0.025V)ln
1+10A10-8A=1.04V


检查结果: 当n=2时,二极管电压介于1~2V,对于工作在大电流下的功率二极管这个结果合理。
解(c): 
已知量: 二极管的电流为2.50mA,电压为0.736V,二极管工作温度为50℃。

未知量: 二极管饱和电流IS。
求解方法: 求解式(3.9),计算二极管饱和电流,然后求出相应的表达式。需要求出50℃时的热电压V
T。

假设: 由于n未给出,此处假设n=1。

分析: 将T=50℃转化为热力学温度T=(273+50)K=323K


VT=
kTq=
(1.38×10-23J/K)(323K)
(1.60×10-19)℃=27.9mV


解式(3.9)得Is


Is=
ID
expVDnVT-1=
2.5mAexp0.736V0.0279V-1
=8.74×10-15A=
8.74fA


结果检查: 所得饱和电流数值在式(3.10)所示的典型范围内,结果合理。

练习: 已知二极管反向饱和电流为40fA。当二极管电压
分别为0.55V和0.7V时,iD分别为多少?如果iD=6mA时,计算二极管电压是多少?
答案: 143μA; 57.9mA; 0.643V。
3.4反偏、零偏、正偏下的二极管特性

对电子器件施加直流电压或电流,称为器件提供直流偏置,简称偏置。偏置决定器件的特性、功耗、电压和电流极限及其他重要的电路参数,因此选择偏置对分析电路和设计电路都非常重要。对于二极管,有3个重要的偏置条件,即反向偏置(Reverse bias)、正向偏置(Forward bias)和零偏置(Zero bias),简称反偏、正偏和零偏。反向偏置和正向偏置,分到对应
vD<0V和vD>0V。零偏置是反向偏置和正向偏置的分界线,vD=0V。二极管反偏时,电流非常小,可认为此时的二极管处于断开状态(OFF),是不导通的。二极管正偏时,电流很大,称此时的二极管处于导通状态(ON)。
3.4.1反偏
当vD<0时,二极管工作在反偏条件下,此时会有很小的反向漏电流流过二极管,约为IS。因此通常认为反偏下的二极管处于不导通或断开状态。例如,对二极管两端施加直流电压V=-4VT=-0.1V,则VD=-0.1V,代入式(3.11),得